某项目XXXX-S参数及多功能在片测试系统
某项目XXXX-S参数及多功能在片测试系统
发布单位: **** 发布时间: 2022-07-07 16:09:58 截止时间: 2022-08-03
统一信息编码:HLJGXQ202****7001
项目编号: ****
采购阶段: 研制
需求分类: 研究技术类
专业领域: 电子元器件,探测与识别,体系建模仿真与评估,电子信息,可靠性/测试性/维修性
预算金额: 290 万元
主要内容
包括:(1)设备清单:测试主机(频率范围:10MHz~50GHz,频率准确度:±1×10-7,端口数:4个,独立内置激励源:2个,中英文操作菜单,选件:400四端口测量、401四端口程控步进衰减器、402有源互调失真测量、008脉冲测量、S07AFR自动夹具移除选件、S80频偏测量、S82混频器标量测量、S83混频器矢量测量、S84嵌入式本振变频器测量、S86增益压缩二维扫描测量选件、003噪声系数测量。)功率计(功率范围:-70dBm~+20dBm连续波)程控电源(输出电压大于60V,输出电流大于10A)电子校准件(频率范围:10MHz~50GHz)噪声源(频率范围:10MHz~50GHz)。(2)技术指标:晶圆尺寸(Φ150mm)测试器件频率范围(10MHz~50GHz)端口输出最小功率(-8dBm~+13dBm)测试电压输出范围(±10V)测试通道差损率(35dB)1dB压缩电平(±10 dBm)测试通道数量(2个)。联系人:李国林,电话:010-****9013。
资格条件
附件
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