A****0302光学计量仪器

预采购微区时间相关单光子计数1套，主要技术参数如下： 1、时间相关单光子计数器 时间分辨率：4ps，单通道计数率：10MHz，时间窗口范围：260ns – 33us， 时间： lt;95ns，最**步速率：84MHz，通道数：2，时间通道数量：65535，计数深度：16bit，定比鉴别器：每通道均有，接口类型：USB2.0接口，含动态链接库文件包，内置时间标记模式（TTTR） 2、高精度单光子探测器 探测波长范围：220-850 nm，暗计数 (制冷后的典型值)： lt; 200 cps，渡越时间宽度 (FWHM典型值)： lt; 50 ps，感应区域直径：6 mm，建议最大计数率：10MHz，过载保护阈值：连续光模式下80 MHz, 其他情况下更低，输出信号 (数字)接口类型：SMA母头. 信号输出 (模拟)接口类型：SMA母头，光学接口：C-mount 3、数据分析拟合软件：Easytau 2 指数衰减模型：最高支持5阶衰减，寿命分布模式：高斯, 洛伦兹, 延伸型指数衰减(最高支持5峰位)，各向异性：最高支持3阶衰减模型, 尾部拟合以及解卷积分析，衰减参数：峰值, 寿命, 分布宽度, 背景，各向异性参数：G因子, 峰值, 背景，解卷积参数：背景, 时间位移, 散射光排除, 脉冲频率，非线性最小二乘拟合/ MLE：Marquardt-Levenberg, Monte Carlo,误差分析：自举法，全局/分组分析拟合：所有分析模式都支持 4、****中心波长：375±10nm，连续功率：10mW，最小脉宽：50ps，最**均功率：7mW，最低平均功率：1.5mW，最高重复频率：100MHz 5、双通道光谱仪 焦长：300mm，采谱重复精度：±0.05nm，CCD分辨率：≤0.1nm（200线Bin，在435nm处用1200g/mm光栅,狭缝高度3mm，宽度20μm），动态范围：所有读出速度下都是16bit，探测器制冷温度：-75摄氏度，系统读出噪声：前照射 2.5 e- rms (标准), 4 e- rms (最大值) @ 100 kHz，10 e- rms (标准), 15 e- rms (最大值) @2 MHz，探测器暗噪声：0.005电子/像元/秒（-75摄氏度操作温度），ADC：ADC双放大器：低噪声和高容量。 服务： 1仪器到达最终用户现场后，在接到用户通知一周内，卖方安排有经验的工程技术人员到用户现场安装、调试，按验收指标逐项测试至到达到验收要求；仪器的安装调试需在接到用户通知后30日内完成。 2技术培训：仪器安装调试合格后，卖方工程师在买方现场对买方人员进行操作及日常维护培训，直到买方人员能独立操作。