八寸晶圆级芯片测试系统
(略)-(略) 详细情况
(略) | |
项目所在采购意向: | (略) |
采购单位: | (略) |
采购项目名称: | (略) |
预算金额: | (略) |
采购品目: | A-货物_A(略)-设备 _A(略)-电子和通信测量仪器 _A(略)-元件器件参数测量仪 _A(略)-半导体器件参数测量仪 |
采购(略) : | 1. (略) 1套; 2. 构建高效、准确的(略),能够全面覆盖多种测试指标,包括电性能、性能参数、稳定性等; 3.开发灵活的测试方案和算法,使系统能够满足不同类型芯片的测试需求,并能够针对特定应用场景进行定制化测试。 |
预计采购时间: | (略) |
备注: |
本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排,具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。
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