供应商：

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中标金额：

112000

公示开始日期

2024-06-04 13:43:49

公示截止日期

2024-06-05 13:43:49

采购单位

****

付款方式

签订合同后30日内

签约时间要求

到货时间要求

收货地址

**大学**校区N7楼102

采购物品

采购数量

计量单位

光谱椭偏仪

1

台

品牌

****

规格型号

SE-VE-L

技术参数

1. 测量能力：一次性获取Psi/Delta, NCS偏振信息以及薄膜n/k/d等信息 2. 光谱范围：400-1000nm 3. 偏振参数：Psi：0-90°，Delta：-90-270°，360度无死角 4. 单点测量时间：不超过12s (可设置) 5. 光斑尺寸：1-4mm（短轴直径） 6. 可视化调平系统：支持样件台可视化辅助对准调平 7. 调制技术：旋转补偿器PCrSA调制技术 8. 膜厚重复测量精度：0.005nm （100nm SiO2硅片，30次重复测量） 9. 折射率重复测量精度：****@632.8nm（100nm SiO2 硅片，30 次重复测量） 10. 褪偏修正：支持厚度不均匀Non-uniformity，带宽Bandwidth及数值孔径Angular Spread退偏效应修正 11. 分析软件：多达数百种的光学材料常数数据库，并支持用户自定义光学材料库；具备折射率梯度分布Grade建模，光学各向异性Anisotropic建模仿真与分析功能，支持至少5个授权软件许可 12. 测控分析电脑： CPU：≥双核心处理器，RAM：≥8G，ROM：≥1T，显示器：≥19寸， windows操作系统

售后服务

服务网点:不限;质保期限:1年;响应期限:报修后2小时;