A****0299其他电工仪器仪表

1）主要功能： 用于半导体芯片高精度光电性能测试，可提供不低于4.5K-350K的可控测试环境温度范围，且样品环境真空度优于5*10-4 torr，配套测试源表和开关。 2）主要技术参数 1、闭循环低温控制系统，可控温度范围不低于 4.5K-350K，温度稳定性高于300K±100mk 2、安装四路开尔文探针，X 方向位移距离不低于 50mm，Y 方向位移距离不低于 25mm，Z 方向位移距离不低于25mm，位移精度不低于 3μm，每路探针配两个三同轴接口。安装 1 路光纤臂，多模 IRVIS 光纤，波长范围不低于400-2100nm，纤芯/包层直径：200/240μm。 3、不低于两英寸样品台，样品台浮地屏蔽设计，带背部电极，样品台表面镀金处理 4、观察窗净尺寸直径不低于 65mm，观察窗材料使用熔融石英 5、样品环境真空度优于 5*10-4 torr 6、双通道源表最大电流源/量程不低于10A，最大电压源/量程不低于200V，测量分辨率（电流/电压）不低于0.1fA / 100nV 7、多通道系统开关最大开关通道数不低于576，集成式数字万用表，卡槽数不低于6，配置不少于 2个**度多路复用卡 3）售后服务： 1、质量保证期为12个月，由最终双方验收合格签署验收报告之日期起；提供一名10年以上设备服务维修经验的工程师提供持续的技术支持。 2、若设备发生故障，卖方在接到买方的设备故障通知后 2小时内做出反应，工作日24小时/周末节假日48小时内赶到现场。