透射电镜用原位加电芯片测试服务成交公示
透射电镜用原位加电芯片测试服务成交公示
日期: 2024-10-09 16:39:33
采购信息 | 采购单位名称 | **** | |||||
采购项目名称 | 透射电镜用原位加电芯片测试服务 | ||||||
成交供应商 | **** | ||||||
成 交 价 | 96000元 | ||||||
联系方式 | 联系邮箱 | cgzx@ahu.****.cn | |||||
公示时间 | 自发布公示之日起2个工作日 | ||||||
采 购 清 单 | |||||||
序号 | 物资名称 | 规格型号 | 单 价 | 数 量 | 技术参数 | ||
1 | 透射电镜用原位加电芯片测试服务 | / | 4000 | 24项 | 利用电子束-离子束双束电镜,截备原位芯片加电样品,具体要求如下: 1、常规样品要求厚度150nm 左右,大小3-5微米,厚度均匀,边缘整齐、表面干净无非晶,必须保证通电,且接触电阻小于500欧: 2、样品预倾转角度:0度,30度,45度。 3、样品种类和数量:铁绪 FeGe 样品数量 (24 个:常规两电极样品12个,预倾转加电样品12个); |
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