基于IEEE1500的嵌入式SRAM存储测试结构
| 项目名称 | 基于IEEE 1500 的嵌入式SRAM存储测试结构 | 项 目 编 号 | **** | |
| 知识产权名称 | 基于IEEE 1500 的嵌入式SRAM存储测试结构 | 所属区域 | ** | |
| 知识产权类型 | 实用新型 | 行业领域 | 电学 | |
| 知识产权持有人 /挂牌申请人 | **** | |||
| 知识产权证书号 /登记号 | ZL 201****48833.1 | |||
| 知识产权正常情况下的有效期限 | 2011年07月15日- 2021年07月14日 | |||
| 知识产权权属 | 独占 | |||
| 许可情况 | 未实施许可 | |||
| 项目阶段 | 试生产阶段 | |||
| 交易/**方式 | 许可、转让或技术入股 | |||
| **价格 | 面议 | |||
| 知识产权及** 简 介 | 本实用新型公开了一种基于IEEE1500的嵌入式SRAM存储器测试结构,该测试结构由嵌入式SRAM的测试壳封装与SRAM测试控制器两部分构成,测试封装壳解决了嵌入式SRAM的测试访问、测试隔离和测试的控制问题,SRAM测试控制器根据测试算法生成测试激励数据、控制封装壳Wrapper、进行响应分析、输出测试结果。应用该测试结构及测试方法,能够检测出嵌入式SRAM存储器存在的故障,有利于嵌入式SRAM存储器的测试复用,可以有效的提高SoC的集成效率。 | |||
| 联系方式 | 0771-****208 | 联系人 | 张先生 | |
| 联系地址 | ****市**大道43号荣桂商厦B座3层 | |||
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